Исследователи из Университета Суонси создали метод визуализации для нейтральных атомных пучковых микроскопов, который позволяет получать микроскопические изображения значительно быстрее, чем существующие методы. Теперь инженеры и учёные смогут получать результаты сканирования образцов намного быстрее.
Нейтральные атомные пучковые микроскопы являются важным инструментом для изучения поверхностей, которые невозможно визуализировать с помощью традиционных микроскопов. Они работают по принципу рассеивания пучка нейтральных частиц низкой энергии, обычно атомов гелия, от поверхности для получения изображения её структуры и состава.
Однако существующие методы визуализации имеют ограничение — изображение измеряется по одному пикселю за раз, что требует значительного времени. Улучшение разрешения путём уменьшения размера отверстия резко снижает поток луча и требует значительно большего времени измерения.